Cihaz: Hitachi SU5000 Yüksek Çözünürlüklü FEG-SEM Sistemi
Taramalı Elektron Mikroskobu (SEM) ile gerçekleştirilen analizlerde, yüksek enerjili bir elektron demeti, vakum ortamında numune yüzeyine odaklanarak yönlendirilir. Elektron demeti ile numune yüzeyindeki atomların etkileşimi sonucunda yayılan farklı parçacıklar ve x-ışınları, örneğin yüzey özellikleri ve kimyasal yapısı hakkında detaylı bilgi elde edilmesini sağlar. İkincil elektronlar, yüzeyin topoğrafik detaylarını ortaya çıkarırken, geri saçılan elektronlar ise farklı kimyasal bileşimlere sahip bölgeler arasındaki kontrast farkı sayesinde yüzeydeki element dağılımını belirlemede kullanılır. Elektron ve numune etkileşiminden kaynaklanan x-ışınları ise Enerji Dağılımlı X-Işını Spektroskopisi (EDS) dedektörleri ile algılanarak elementel analiz gerçekleştirilir. Cihazımızla entegre çalışan EDS dedektörü, numunede bulunan elementlerin miktarını ve dağılımını belirlemek için haritalama yapmaya imkan tanır.
Cihaz Özellikleri
Thermal Field Emission GUN
500V-30kV Hizlandirma Voltajı
1,2nm çözünürlük @30kV
3nm çözünürlük @1kV
SE detector chamber
BSE detector Chamber
Düşük Vakum Özelliği (300Pa)
OXFORD EDS DETECTOR 40MM2
Numune değişim Önvakum odası (SEC, hava teması istenmeyen numuneler için)
2026 Yılı Analiz Ücreti
| SEM Görüntü Analizi | 1000 TL/saat + KDV |
| SEM Görüntü Analizi (inert atmosfer koşullarında – numune hazırlama dahil) | 8000 TL/saat + KDV |
| EDS Analizi – Haritalama(Nokta, Çizgi ve Alan Taraması) | 700 TL/saat + KDV |
| Altın Kaplama | 600 TL/numune + KDV |
| Numune hazırlama (dispersiyon, kurutma veya muhafaza için) | 300 TL/adet+ kdv |
**Standart numune hazırlama toz için iletken bant üzerine ezilerek dağıtılarak yapılır. Masif numuneler doğrudan holder’a yapıştırılır.
Cihaz Sorumları:Mehmet Feryat Gülcan / fgulcan@enwair.com – Çağatay Özada / cozada@enwair.com
Başvuru için lütfen mail ve ya telefon ile iletişime geçiniz / info@enwair.com / +905011054810
