Cihaz: Hitachi SU5000 Yüksek Çözünürlüklü FEG-SEM Sistemi

Taramalı Elektron Mikroskobu (SEM) ile gerçekleştirilen analizlerde, yüksek enerjili bir elektron demeti, vakum ortamında numune yüzeyine odaklanarak yönlendirilir. Elektron demeti ile numune yüzeyindeki atomların etkileşimi sonucunda yayılan farklı parçacıklar ve x-ışınları, örneğin yüzey özellikleri ve kimyasal yapısı hakkında detaylı bilgi elde edilmesini sağlar. İkincil elektronlar, yüzeyin topoğrafik detaylarını ortaya çıkarırken, geri saçılan elektronlar ise farklı kimyasal bileşimlere sahip bölgeler arasındaki kontrast farkı sayesinde yüzeydeki element dağılımını belirlemede kullanılır. Elektron ve numune etkileşiminden kaynaklanan x-ışınları ise Enerji Dağılımlı X-Işını Spektroskopisi (EDS) dedektörleri ile algılanarak elementel analiz gerçekleştirilir. Cihazımızla entegre çalışan EDS dedektörü, numunede bulunan elementlerin miktarını ve dağılımını belirlemek için haritalama yapmaya imkan tanır.

Cihaz Özellikleri

Thermal Field Emission GUN

500V-30kV Hizlandirma Voltajı

1,2nm çözünürlük @30kV

3nm çözünürlük @1kV

SE detector chamber

BSE detector Chamber

Düşük Vakum Özelliği (300Pa)

OXFORD EDS DETECTOR 40MM2

Numune değişim Önvakum odası (SEC, hava teması istenmeyen numuneler için)

2025 Yılı Analiz Ücreti

SEM Görüntü Analizi	720 TL/saat + KDV
SEM Görüntü Analizi (inert atmosfer koşullarında – numune hazırlama dahil)	6000 TL/saat + KDV
EDS Analizi – Haritalama(Nokta, Çizgi ve Alan Taraması)	480 TL/saat + KDV
Altın Kaplama	360 TL/numune + KDV

Cihaz Sorumları:Mehmet Feryat Gülcan / fgulcan@enwair.com – Çağatay Özada / cozada@enwair.com

Başvuru için lütfen mail ve ya telefon ile iletişime geçiniz / info@enwair.com / +905011054810